Janez Kovač je višji znanstveni sodelavec na IJS in redni profesor na Mednarodni podiplomski šoli Jožef Stefan. Na IJS je vodja Laboratorija za analizo površin in tankih plasti. Njegov znanstveni interes je precizna karakterizacija površin materialov in tankih plasti na nano-meterskem nivoju z metodami elektronske spektroskopije (rentgenska fotoelektronska spektroskopija – XPS) in sekundarne ionske masne spektrometrije površin (SIMS), študij reakcij na površinah, v 2D materialih in v tankih plasteh, funkcionalizacija in plazemska obdelava površin, profilna analiza večplastnih struktur in druge vakuumske tehnologije. Ukvarja se z karakterizacijo in uporabo kvantnih pik različnih materialov.
prof. Tomaž Rejec
Tomaž Rejec je raziskovalec na področju teorije trdnih snovi na Odseku za teoretično fiziko Instituta Jožef Stefan in docent za fiziko na Fakulteti za matematiko in fiziko Univerze v Ljubljani. Raziskuje na področju transportnih lastnosti nanoskopskih sistemov z...